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測(cè)試項(xiàng)目分類(lèi)
- 超高分辨球差校正透射電子顯微鏡（Titan TEM 200）高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（Tecnai G2 F30）高分辨場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡（JEM 2100F）超高分辨掃描電子顯微鏡（Nova NanoSEM 450）高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（Zeiss Merlin）高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi SU8020）高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（Hitachi S-4800 ）原子力顯微鏡（Multimode 8）原子力顯微鏡（NT-MDT Prima）高真空掃描探針顯微鏡系統(tǒng)（SPI 3800N）原子力顯微鏡（MFP-3D）激光共聚焦顯微鏡（FV1200）
- 電子背散射衍射分析儀（Zeiss Merlin-EBSD）紫外光電子能譜（ESCALAB 250Xi-UPS）多功能X射線(xiàn)光電子能譜儀（Kratos）俄歇電子能譜儀（ESCALAB 250XI-AES）多功能光電子能譜儀（ESCALAB 250XI）X射線(xiàn)粉末衍射儀（Advance D8）X射線(xiàn)單晶衍射儀（D8 Advance（達(dá)芬奇設(shè)計(jì)））X射線(xiàn)粉末衍射儀（島津?X-7000）電子探針X射線(xiàn)顯微分析儀（JAX-8230）X射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF-1800）飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）
- 熒光壽命測(cè)試儀（Quantaurus—Tau）吡啶紅外（尼高力 380）傅立葉紅外分光光度計(jì)（IRPrestige 21）紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)（Shimadzu UV3600）激光粒度分析儀（Zetasizer Nano ZS90）激光顯微拉曼光譜儀（LabRAM HR Evolution)激光顯微拉曼光譜儀（Renishaw inVia）橢偏儀（VB-400）瞬態(tài)熒光光譜儀（FS920）原子吸收光譜儀（AAnalyst 800）圓二色儀（Chirascan）表面等離子體共振（Biacore 3000）
- 無(wú)液氦綜合物性測(cè)量系統(tǒng)（QD Dynacool）電子順磁共振波譜儀(ESR FA200)霍爾效應(yīng)測(cè)試儀（HMS-5000）精密阻抗分析儀（4294a）太陽(yáng)能電池性能測(cè)試（Newport PVIV-412V）鐵電測(cè)試系統(tǒng)（RTI-Multiferroic）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀(Keithley 4200)網(wǎng)絡(luò)分析儀（Agilent N5244A）穆斯堡爾譜儀（WISSEL）
- 激光導(dǎo)熱儀（LFA 457）差示掃描量熱儀（DSC Q2000）熱電性能測(cè)試系統(tǒng)（ZEM-3）熱重分析儀（TG-Q500）熱重差示熱分析儀（HT1600）熱膨脹系統(tǒng)測(cè)試儀（耐馳 DIL402PC）機(jī)械熱分析（TMA402F3）DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TA Q800)
- 原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（TriboIndenter）納米壓痕劃痕測(cè)試儀（安東帕 NHT2）動(dòng)態(tài)超顯微硬度計(jì)（DUH-201S）電子材料試驗(yàn)機(jī)（INSTRON 3343）數(shù)顯洛氏硬度計(jì)（HVS-1000）數(shù)顯維氏硬度計(jì)（HVS-50）
- 三重四極桿質(zhì)譜儀（TSQ Quantum Access MAX）元素分析儀?(德國(guó)elementar 公司?vario EL cube)液體核磁共振波譜儀（Advance III 400HD）固體核磁波譜儀（VNMRS600）電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（安捷倫ICP-OES）全自動(dòng)比表面積及微孔分析儀?（Autosorb iQ2）接觸角測(cè)量?jī)x（OCA20）Zeta電位儀（Nano-ZS90）電化學(xué)工作站（Parstat PMC）全自動(dòng)物理/化學(xué)吸附分析儀（康塔Quantachrome AutosorbiQ-C）四元液相色譜系統(tǒng) (1290 Infinity II)
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